Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
                
    
    http://dspace.pdpu.edu.ua/handle/123456789/15171| Назва: | Investigation Of Helium Implanted Fe–Cr Alloys By Means Of X–Ray Diffraction And Positron Annihilation Spectroscopy | 
| Інші назви: | Дослідження імплантованих гелієм Fe–Cr сплавів за допомогою рентгенівської дифракції та позитронної анігіляційної спектроскопії | 
| Автори: | Гохман, Олександр Рафаїлович Gokhman, Oleksandr Rafailovych Nov´ak, Patrik Dobroˇcka, Edmund Bokor, Jozef Stanislav, Pecko  | 
| Ключові слова: | grazing incidence helium implantation positron annihilation spectroscopy radiation damage x-raydiffraction позитронна анігіляційна спектроскопія імплантація гелію радіаційне ураження рентгенівська дифракція  | 
| Дата публікації: | 2015 | 
| Бібліографічний опис: | Gokhman О. R. Investigation Of Helium Implanted Fe–Cr Alloys By Means Of X–Ray Diffraction And Positron Annihilation Spectroscopy / O. R. Gokhman, Р. Nov´ak, е. Dobroˇcka, J. Bokor, Р. Stanislav // Journal of Electrical Engineering. - V. 66. - №.6. - 2015. - Р. 334–338. | 
| Короткий огляд (реферат): | X-ray diffraction (XRD) and positron annihilation spectroscopy (PAS) have been used for the characterization of thetwo binary alloys Fe-Cr with Cr content 2.36 and 8.39 wt%. The influence of ion implantation on these alloys was studied.Different implantation doses of helium, up to 0.5 C/cm2, were used to simulate neutron-induced damage in a sub-surfaceregion. To characterize the damage, a lattice parameter, coherent domain size, residual stress and a crystallographic texturehave been studied by grazing incidence X-ray diffraction (GIXRD). It was found out that these parameters showed a similardependence on the implantation dose as the positron lifetime determined by positron annihilation spectroscopy. Рентгенівська дифракція (XRD) та позитронна анігіляційна спектроскопія (PAS) були використані для характеристики двох бінарних сплавів Fe-Cr з вмістом Cr 2,36 і 8,39 мас.%. Досліджено вплив іонної імплантації на ці сплави. Різні дози імплантації гелію, до 0,5 C/см2, використовувалися для імітації нейтронно-індукованого пошкодження в підповерхневій області. Щоб охарактеризувати пошкодження, за допомогою дифракції рентгенівських променів з падінням (GIXRD) досліджували параметр решітки, розмір когерентного домену, залишкову напругу та кристалографічну текстуру. Виявлено, що ці параметри виявляють таку ж залежність від дози імплантації, що й час життя позитронів, визначений методом анігіляційної спектроскопії позитронів. | 
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://dspace.pdpu.edu.ua/handle/123456789/15171 | 
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра прикладної математики та інформатики | 
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Gokhman Oleksandr Rafailovych.pdf | 639.53 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити | 
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.