Please use this identifier to cite or link to this item: dspace.pdpu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15171
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГохман, Олександр Рафаїлович-
dc.contributor.authorGokhman, Oleksandr Rafailovych-
dc.contributor.authorNov´ak, Patrik-
dc.contributor.authorDobroˇcka, Edmund-
dc.contributor.authorBokor, Jozef-
dc.contributor.authorStanislav, Pecko-
dc.date.accessioned2022-06-20T08:59:09Z-
dc.date.available2022-06-20T08:59:09Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationGokhman О. R. Investigation Of Helium Implanted Fe–Cr Alloys By Means Of X–Ray Diffraction And Positron Annihilation Spectroscopy / O. R. Gokhman, Р. Nov´ak, е. Dobroˇcka, J. Bokor, Р. Stanislav // Journal of Electrical Engineering. - V. 66. - №.6. - 2015. - Р. 334–338.uk
dc.identifier.uridspace.pdpu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15171-
dc.description.abstractX-ray diffraction (XRD) and positron annihilation spectroscopy (PAS) have been used for the characterization of thetwo binary alloys Fe-Cr with Cr content 2.36 and 8.39 wt%. The influence of ion implantation on these alloys was studied.Different implantation doses of helium, up to 0.5 C/cm2, were used to simulate neutron-induced damage in a sub-surfaceregion. To characterize the damage, a lattice parameter, coherent domain size, residual stress and a crystallographic texturehave been studied by grazing incidence X-ray diffraction (GIXRD). It was found out that these parameters showed a similardependence on the implantation dose as the positron lifetime determined by positron annihilation spectroscopy. Рентгенівська дифракція (XRD) та позитронна анігіляційна спектроскопія (PAS) були використані для характеристики двох бінарних сплавів Fe-Cr з вмістом Cr 2,36 і 8,39 мас.%. Досліджено вплив іонної імплантації на ці сплави. Різні дози імплантації гелію, до 0,5 C/см2, використовувалися для імітації нейтронно-індукованого пошкодження в підповерхневій області. Щоб охарактеризувати пошкодження, за допомогою дифракції рентгенівських променів з падінням (GIXRD) досліджували параметр решітки, розмір когерентного домену, залишкову напругу та кристалографічну текстуру. Виявлено, що ці параметри виявляють таку ж залежність від дози імплантації, що й час життя позитронів, визначений методом анігіляційної спектроскопії позитронів.uk
dc.language.isoenuk
dc.subjectgrazing incidenceuk
dc.subjecthelium implantationuk
dc.subjectpositron annihilation spectroscopyuk
dc.subjectradiation damageuk
dc.subjectx-raydiffractionuk
dc.subjectпозитронна анігіляційна спектроскопіяuk
dc.subjectімплантація геліюuk
dc.subjectрадіаційне ураженняuk
dc.subjectрентгенівська дифракціяuk
dc.titleInvestigation Of Helium Implanted Fe–Cr Alloys By Means Of X–Ray Diffraction And Positron Annihilation Spectroscopyuk
dc.title.alternativeДослідження імплантованих гелієм Fe–Cr сплавів за допомогою рентгенівської дифракції та позитронної анігіляційної спектроскопіїuk
dc.typeArticleuk
Appears in Collections:Кафедра фізики

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Gokhman Oleksandr Rafailovych.pdf639.53 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.