Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: dspace.pdpu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15171
Назва: Investigation Of Helium Implanted Fe–Cr Alloys By Means Of X–Ray Diffraction And Positron Annihilation Spectroscopy
Інші назви: Дослідження імплантованих гелієм Fe–Cr сплавів за допомогою рентгенівської дифракції та позитронної анігіляційної спектроскопії
Автори: Гохман, Олександр Рафаїлович
Gokhman, Oleksandr Rafailovych
Nov´ak, Patrik
Dobroˇcka, Edmund
Bokor, Jozef
Stanislav, Pecko
Ключові слова: grazing incidence
helium implantation
positron annihilation spectroscopy
radiation damage
x-raydiffraction
позитронна анігіляційна спектроскопія
імплантація гелію
радіаційне ураження
рентгенівська дифракція
Дата публікації: 2015
Бібліографічний опис: Gokhman О. R. Investigation Of Helium Implanted Fe–Cr Alloys By Means Of X–Ray Diffraction And Positron Annihilation Spectroscopy / O. R. Gokhman, Р. Nov´ak, е. Dobroˇcka, J. Bokor, Р. Stanislav // Journal of Electrical Engineering. - V. 66. - №.6. - 2015. - Р. 334–338.
Короткий огляд (реферат): X-ray diffraction (XRD) and positron annihilation spectroscopy (PAS) have been used for the characterization of thetwo binary alloys Fe-Cr with Cr content 2.36 and 8.39 wt%. The influence of ion implantation on these alloys was studied.Different implantation doses of helium, up to 0.5 C/cm2, were used to simulate neutron-induced damage in a sub-surfaceregion. To characterize the damage, a lattice parameter, coherent domain size, residual stress and a crystallographic texturehave been studied by grazing incidence X-ray diffraction (GIXRD). It was found out that these parameters showed a similardependence on the implantation dose as the positron lifetime determined by positron annihilation spectroscopy. Рентгенівська дифракція (XRD) та позитронна анігіляційна спектроскопія (PAS) були використані для характеристики двох бінарних сплавів Fe-Cr з вмістом Cr 2,36 і 8,39 мас.%. Досліджено вплив іонної імплантації на ці сплави. Різні дози імплантації гелію, до 0,5 C/см2, використовувалися для імітації нейтронно-індукованого пошкодження в підповерхневій області. Щоб охарактеризувати пошкодження, за допомогою дифракції рентгенівських променів з падінням (GIXRD) досліджували параметр решітки, розмір когерентного домену, залишкову напругу та кристалографічну текстуру. Виявлено, що ці параметри виявляють таку ж залежність від дози імплантації, що й час життя позитронів, визначений методом анігіляційної спектроскопії позитронів.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): dspace.pdpu.edu.ua/jspui/handle/123456789/15171
Розташовується у зібраннях:Кафедра фізики

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Gokhman Oleksandr Rafailovych.pdf639.53 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.